DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61747-6-3
Flüssigkristall-Anzeige-Bauelemente - Teil 6-3: Messverfahren für Bewegungsartefakte bei Aktiv-Matrix-LCD-Modulen (IEC 61747-6-3:2011); Deutsche Fassung EN 61747-6-3:2011
Liquid crystal display devices - Part 6-3: Measuring methods for liquid crystal display modules - Motion artifact measurement of active matrix liquid crystal display modules (IEC 61747-6-3:2011); German version EN 61747-6-3:2011
Einführungsbeitrag
Diese Norm legt allgemeine Verfahren für die Qualitätsbeurteilung fest und gibt allgemeine Regeln an für die Messung von Bewegungsartefakten bei Flüssigkristall-Anzeigemodulen mit Aktiv-Matrix-Adressierung (active-matrix LCDs). Die Norm beschreibt Artefakte, die bei der Darstellung von bewegten Bildinhalten entstehen können und legt Methoden zu deren Messung fest. Zuständig ist das K 742 "Audio/Video- und Multimediasysteme, -geräte und -komponenten" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Dokument: zitiert andere Dokumente
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 742 - Audio-, Video- und Multimediasysteme, -geräte und -komponenten
