DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61788-6
; VDE 0390-6:2012-04
Supraleitfähigkeit - Teil 6: Messung der mechanischen Eigenschaften - Messung der Zugfestigkeit von Cu/Nb-Ti-Verbundsupraleitern bei Raumtemperatur (IEC 61788-6:2011); Deutsche Fassung EN 61788-6:2011
Superconductivity - Part 6: Mechanical properties measurement - Room temperature tensile test of Cu/Nb-Ti composite superconductors (IEC 61788-6:2011); German version EN 61788-6:2011
Einführungsbeitrag
Die Cu/Nb-Ti-Verbundsupraleiterdrähte, die zurzeit verwendet werden, bestehen aus Multifilament-Verbundmaterial mit einer Matrix, die als Stabilisierungsmetall wirkt, in welches äußerst dünne supraleitende Filamente eingebettet sind. Als supraleitendes Material wird eine Legierung aus Nb und 40 bis etwa 55 Massen-% Ti eingesetzt, während sauerstofffreies Kupfer oder hochreines Aluminium als Matrixmetall verwendet wird. Kommerzielle Verbundsupraleiter haben eine hohe Stromdichte und eine kleine Querschnittsfläche. Das hauptsächliche Anwendungsgebiet von Verbundsupraleitern besteht darin, supraleitende Magnete zu bauen. Während der Herstellung des Magneten werden seine Wicklungen komplizierten mechanischen Spannungen ausgesetzt und bei Erregung des Magneten wird eine große elektromagnetische Kraft auf die supraleitenden Drähte aufgrund ihrer hohen Stromdichte ausgeübt. Daher ist es unverzichtbar, die mechanischen Eigenschaften der supraleitenden Drähte, aus denen die Wicklungen hergestellt werden, zu bestimmen. Dieser Teil der IEC 61788 behandelt im Einzelnen das Vorgehen bei der Zugfestigkeitsmessung, die an Cu/Nb-Ti-Verbundsupraleitern bei Raumtemperatur durchzuführen ist. Dieses Verfahren wird angewendet, um den Elastizitätsmodul, die 0,2 %-Dehngrenze des Verbundleiters bedingt durch die Dehnung der Kupferkomponente und die Zugfestigkeit zu messen. Der Wert der Bruchdehnung in % und die 0,2 %-Dehngrenze zweiter Art, bedingt durch die Dehnung der Nb-Ti-Komponente, sind nur als Referenzgrößen heranzuziehen. Die Probe, die mit diesem Messverfahren untersucht wird, weist einen runden oder rechteckigen Querschnitt mit einer Fläche von 0,15 mm2 bis 2 mm2 und ein Verhältnis von Kupfervolumen zu Supraleitervolumen von 1,0 bis 8,0, ohne Isolierschicht, auf. Zuständig ist das K 184 "Supraleiter" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 61788-6 (VDE 0390-6):2008-12 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Der Normentext wurde entsprechend den aktuellen Vorgaben für Dokumente überarbeitet; b) die Dehngeschwindigkeit wurde durch Traversengeschwindigkeit ersetzt; c) die Ausführungen zur Messunsicherheit wurden überarbeitet; d) der Text und die Tabellen wurden zur Klar- und Richtigstellung und Präzisierung überarbeitet und zum Teil neu mit Überschriften und Nummerierungen versehen; e) für die Dehnmesslänge wurde ein Kurzzeichen neu definiert; f) ein Anhang C für spezielle Beispiele im Bezug auf mechanische Messungen wurde eingefügt, um die Vorgehensweise bei der Abschätzung von Messunsicherheiten darzustellen.
