NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Norm [AKTUELL]

ISO 2859-1 AMD 1
Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenpläne für die Prüfung einer Serie von Losen -

Titel (englisch)

Sampling procedures for inspection by attributes - Part 1: Sampling schemes indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection; Amendment 1

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 147-00-02 AA - Angewandte Statistik  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 69/SC 5/WG 2 - Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung)  

Ausgabe 2011-06
Originalsprache Englisch
Preis ab 19,30 €
Inhaltsverzeichnis

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