DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61000-4-20
; VDE 0847-4-20:2011-07
Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) - Teil 4-20: Prüf- und Messverfahren - Messung der Störaussendung und Störfestigkeit in transversal-elektromagnetischen (TEM-)Wellenleitern (IEC 61000-4-20:2010); Deutsche Fassung EN 61000-4-20:2010
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides (IEC 61000-4-20:2010); German version EN 61000-4-20:2010
Einführungsbeitrag
Diese Norm enthält die Deutsche Fassung der Europäischen Norm EN 61000-4-20:2010 und ist identisch mit der Internationalen Norm IEC 61000-4-20:2010. Sie gilt für die Messung der Störaussendung und die Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen oder elektronischen Geräten (Einrichtungen) in Bezug auf hochfrequente elektromagnetische Felder, wobei verschiedene Arten von TEM-Wellenleitern (transversal elektromagnetisch, TEM) eingesetzt werden. Diese beinhalten offene Strukturen (zum Beispiel Streifenleiter und EMP-Simulatoren) und geschlossene Strukturen (zum Beispiel TEM-Zellen), die weiter in Ein-, Zwei- oder Vieltor-TEM-Wellenleiter unterteilt werden können. Der Frequenzbereich hängt von den speziellen Prüfanforderungen und dem speziellen Typ des TEM-Wellenleiters ab. Prüflinge, die im TEM-Wellenleiter geprüft werden sollen, müssen klein sein und es dürfen keine Leitungen an sie angeschlossen sein. Gegenüber der vorhergehenden Norm wurde unter anderem die Norm umstrukturiert, die Abschnitte 7 bis 9 und ein neuer informativer Anhang betreffend die Feldsondenkalibrierung ergänzt. Zuständig ist das UK 767.3 "Hochfrequente Störgrößen" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 61000-4-20 (VDE 0847-4-20):2008-03 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Umstrukturierung der Norm; so wurde der bisherige B.2.2 zu 5.2.3 und der bisherige A.6.2 zu A.5.1.2; b) In 5.2.2 Erhöhung der Anzahl der Prüfpunkte auf 5 %, für die die sekundäre elektrische Feldkomponente einen Pegel bis zu -2 dB der primären elektrischen Feldkomponente haben dürfen, und Streichung der Festlegung für große TEM-Wellenleiter; c) Ergänzung der Anmerkung 2 in 5.2.2 und entsprechende Änderung der Nummern der nachfolgenden Anmerkungen; d) Ergänzung der Anmerkung 1 und Anmerkung 2 in 5.2.3 (vorher B.2.2) und entsprechende Änderung der Nummern der nachfolgenden Anmerkungen; e) Überarbeitung des Kalibrierverfahrens für die Gleichförmigkeit des Feldes in 5.2.3 (vorher B.2.2); f) Streichung des bisherigen 5.1.3 zu Effekten der Beladung in TEM-Wellenleitern; g) Streichung von 5.3 zu Betrachtungen der Messunsicherheit; h) Ergänzung der Abschnitte 7 bis 9; zugunsten der Aufnahme von 7.2 zu klimatischen Bedingungen wird C.5.1 gestrichen, und die nachfolgenden Abschnitte entsprechend umnummeriert; i) Streichung im ersten Absatz von A.3.1, dass bei Meinungsverschiedenheiten das ursprünglich verwendete Verfahren Vorrang besitzt; j) Streichung von A.4.2.2 zum Eignungsnachweis des TEM-Wellenleiters für große Prüflinge; k) Überarbeitung von B.2.3 zur Validierung des gleichförmigen Felds im TEM-Wellenleiter für Prüfungen der Störfestigkeit; l) Ergänzung eines neuen Anhangs E zur Kalibrierung von Feldsonden und Änderung der Bezeichnung des bisherigen Anhangs E in Anhangs F; m) redaktionelle Überarbeitung der Norm.
