DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 62132-2
; VDE 0847-22-2:2011-07
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 62132-2:2010); Deutsche Fassung EN 62132-2:2011
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method (IEC 62132-2:2010); German version EN 62132-2:2011
Einführungsbeitrag
Die vorliegende Internationale Norm legt ein Verfahren zur Messung der Störfestigkeit einer integrierten Schaltung (IC) gegen hochfrequente (HF) elektromagnetische Störstrahlung fest. Der Frequenzbereich dieses Verfahrens reicht von 150 kHz bis 1 GHz oder wird durch die Grenzen der Kennwerte der TEM-Zelle festgelegt. Eine TEM-Zelle ist ein räumlich geschlossener TEM-Wellenleiter, oft eine rechteckige Koaxialleitung, in dem sich eine transversale elektromagnetische Welle ausbreitet, so dass ein definiertes Feld für Prüfzwecke erzeugt wird; dabei umschließt der Außenleiter den Innenleiter vollständig. Dieses Verfahren wurde entwickelt, um eine Vorhersage des Risikos der elektromagnetischen Störung von integrierten Schaltungen unter dem Einfluss von Hochfrequenzfeldern zu ermöglichen. Zukünftige Normen dieser Reihe tragen den angegebenen neuen allgemeinen Titel und werden als Messvorschrift für EMV in die entsprechende Reihe mit der VDE-Klassifikation 0847-22 aufgenommen. Die Titel der bestehenden Normen dieser Reihe werden mit der nächsten Ausgabe aktualisiert und diese werden dann ebenfalls mit der VDE-Klassifikation 0847-22 in das VDE-Vorschriftenwerk aufgenommen. Zuständig ist das K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
