NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN EN 60749-15
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 15: Beständigkeit gegen Löttemperatur bei Bauelementen zur Durchsteckmontage (IEC 60749-15:2010); Deutsche Fassung EN 60749-15:2010 + AC:2011

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices (IEC 60749-15:2010); German version EN 60749-15:2010 + AC:2011

Einführungsbeitrag

In diesem Teil der DIN EN 60749 ist ein Prüfverfahren festgelegt, um bei in Gehäusen montierten Halbleiter-Bauelementen zur Durchsteckmontage (THT, en: through hole technology) deren Beständigkeit gegenüber Wärmeeinwirkungen zu bestimmen, denen die Bauelemente während des Lötens ihrer Anschlüsse ausgesetzt sind, und zwar sowohl beim Wellenlöten als auch beim Löten mit dem Handlötkolben. Das Lötbadverfahren (Solder-Dip) wird aufgrund seiner gut beherrschbaren Bedingungen verwendet, um ein standardisiertes Prüfverfahren für die am besten reproduzierbaren Verfahren festzulegen. Mit Hilfe dieses Prüfverfahrens wird bestimmt, ob Bauelemente fähig sind, gegenüber der bei der Leiterplattenfertigung auftretenden Lötwärme beständig zu sein, und zwar ohne Degradationen der elektrischen Eigenschaften oder der inneren Verbindungen. Dieses Prüfverfahren entspricht im Allgemeinen IEC 60068-220, allerdings sind, infolge der besonderen Anforderungen an Halbleiterbauelemente, die Festlegungen dieser Norm anzuwenden. Diese Norm ersetzt DIN EN 60749-15:2003. Die wesentlichen Änderungen gegenüber der Vorgängernorm sind: - Ergänzung von Festlegungen für die chemische Zusammensetzung bleifreier Lote; - editorielle Änderungen im Anwendungsbereich sowie in der deutschen Sprachfassung. Zuständig ist das K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 60749-15:2003-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) editorielle Änderungen im Anwendungsbereich; b) Verweis auf IEC 60068 220 als normativer Verweis gestrichen; c) Ergänzung von Festlegungen für die chemische Zusammensetzung bleifreier Lote; d) editorielle Überarbeitung der deutschen Sprachfassung.

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Ausgabe 2011-06
Originalsprache Deutsch
Preis ab 63,80 €
Inhaltsverzeichnis

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