NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60749-34 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60747-1 | 2006-02 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 1: Allgemeines Mehr |
| IEC 60749-23 | 2004-02 | Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur Mehr |
| IEC 60747-1 AMD 1 | 2010-05 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 1: Allgemeines Mehr |
| IEC 60747-1 Corrigendum 1 | 2008-09 | Semiconductor devices - Part 1: General; Corrigendum 1 Mehr |
| IEC 60747-1 Edition 2.1 | 2010-08 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 1: Allgemeines Mehr |
| IEC 60747-14-1 | 2010-01 | Halbleiterbauelemente - Teil 14-1: Halbleitersensoren - Fachgrundspezifikation für Sensoren Mehr |
| IEC 60747-14-2 | 2000-11 | Halbleiterbauelemente - Teil 14-2: Halbleiter-Sensoren; Hall-Elemente Mehr |
| IEC 60747-14-3 | 2009-04 | Halbleiterbauelemente - Teil 14-3: Halbleitersensoren - Drucksensoren Mehr |
| IEC 60747-14-4 | 2011-01 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 14-4: Halbleiter-Beschleunigungsaufnehmer Mehr |
| IEC 60747-14-5 | 2010-02 | Halbleiterbauelemente - Teil 14-5: Halbleitersensoren - Halbleiter-Temperatursensoren mit PN-Übergang Mehr |
