NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 62058-11 ; VDE 0418-8-11:2011-04 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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ISO 2859-1 | 1999-11 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenanweisungen für die Prüfung einer Serie von Losen anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler Mehr |
ISO 2859-1 Technical Corrigendum 1 | 2001-03 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenanweisungen für die Prüfung einer Serie von Losen anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler; Korrektur 1 Mehr |
ISO 2859-3 | 2005-05 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 3: Skip-Lot-Verfahren Mehr |
ISO 3534-2 | 2006-09 | Statistik - Begriffe und Formelzeichen - Teil 2: Angewandte Statistik (ISO 3534-2:2006); Text Deutsch und Englisch Mehr |
ISO 5479 | 1997-05 | Statistische Auswertung von Daten - Tests auf Abweichung von der Normalverteilung Mehr |
DIN ISO 2859-3 | 2007-10 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 3: Skip-Lot-Verfahren (ISO 2859-3:2005); Text Deutsch, Englisch Mehr |
ISO 2854 | 1976-02 | Statistische Auswertung von Daten - Schätz- und Testverfahren für Erwartungswerte und Varianzen Mehr |
ISO 3534-1 | 2006-10 | Statistik - Begriffe und Formelzeichen - Teil 1: Wahrscheinlichkeit und allgemeine statistische Begriffe (ISO 3534-1:2006); Text Deutsch und Englisch Mehr |
ISO/TR 8550-1 | 2007-06 | Leitfaden für die Auswahl und die Anwendung von Annahmestichprobensystemen für die Prüfung diskreter Einheiten in Losen - Teil 1: Allgemeiner Leitfaden für die Annahmestichprobenprüfung Mehr |
ISO/TR 8550-2 | 2007-10 | Leitfaden für die Auswahl und die Anwendung von Annahmestichprobensystemen für die Prüfung diskreter Einheiten in Losen - Teil 2: Stichprobenprüfung anhand von Alternativmerkmalen (Attributprüfung) Mehr |