NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61649 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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IEC 60300-3-5 | 2001-03 | Zuverlässigkeitsmanagement - Teil 3-5: Anwendungsleitfaden; Zuverlässigkeitsprüfungen und Grundsätze für die statistische Prüfung Mehr |
ISO 2854 | 1976-02 | Statistische Auswertung von Daten - Schätz- und Testverfahren für Erwartungswerte und Varianzen Mehr |
ISO 3534-1 | 2006-10 | Statistik - Begriffe und Formelzeichen - Teil 1: Wahrscheinlichkeit und allgemeine statistische Begriffe (ISO 3534-1:2006); Text Deutsch und Englisch Mehr |
IEC 60300-3-1 | 2003-01 | Zuverlässigkeitsmanagement - Teil 3-1: Anwendungsleitfaden; Verfahren zur Analyse der Zuverlässigkeit; Leitfaden zur Methodik Mehr |
IEC 60300-3-2 | 2004-11 | Zuverlässigkeitsmanagement - Teil 3-2: Anwendungsleitfaden - Erfassung von Zuverlässigkeitsdaten im Betrieb Mehr |
IEC 60605-4 | 2001-08 | Prüfung der Zuverlässigkeit von Geräten - Teil 4: Statistische Verfahren für die Exponentialverteilung; Schätzwerte, Vertrauensgrenzen, Vorhersagegrenzen und Toleranzgrenzen Mehr |
IEC 60605-6 | 2007-05 | Prüfungen der Zuverlässigkeit von Geräten - Teil 6: Test auf Gültigkeit zeitlich konstanter Ausfallrate und Ausfalldichte sowie deren Schätzung Mehr |
ISO 11453 | 1996-05 | Statistische Auswertung von Daten - Tests und Vertrauensbereiche für Anteile Mehr |