NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61318 ; VDE 0682-120:2009-02 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| ISO 2859-1 | 1999-11 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenanweisungen für die Prüfung einer Serie von Losen anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler Mehr |
| ISO 2859-1 Technical Corrigendum 1 | 2001-03 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenanweisungen für die Prüfung einer Serie von Losen anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler; Korrektur 1 Mehr |
| ISO 2859-3 | 2005-05 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 3: Skip-Lot-Verfahren Mehr |
| ISO 2859-5 | 2005-06 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 5: System sequenzieller Stichprobenpläne für losweise Prüfung, geordnet nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) (ISO 2859-5:2005; Text Deutsch, Englisch) Mehr |
| DIN ISO 2859-3 | 2007-10 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 3: Skip-Lot-Verfahren (ISO 2859-3:2005); Text Deutsch, Englisch Mehr |
| IEC 60050-151 | 2001-07 | Internationales Elektrotechnisches Wörterbuch - Teil 151: Elektrische und magnetische Geräte und Einrichtungen Mehr |
| ISO 2859-1 | 1999-11 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenanweisungen für die Prüfung einer Serie von Losen anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler Mehr |
| ISO 3534-2 | 2006-09 | Statistik - Begriffe und Formelzeichen - Teil 2: Angewandte Statistik (ISO 3534-2:2006); Text Deutsch und Englisch Mehr |
