NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60793-2-60 ; VDE 0888-326:2008-12 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60793-1-21 | 2001-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-21: Messmethoden und Prüfverfahren; Beschichtungsgeometrie Mehr |
| IEC 60793-1-22 | 2001-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-22: Messmethoden und Prüfverfahren; Längenmessung Mehr |
| IEC 60793-1-46 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-46: Messmethoden und Prüfverfahren; Überwachung der optischen Übertragungsänderungen Mehr |
| IEC/TR3 61931 | 1998-08 | Lichtwellenleiter - Terminologie Mehr |
| DIN EN 60793-1-21 ; VDE 0888-221:2002-11 | 2002-11 | Lichtwellenleiter - Teil 1-21: Messmethoden und Prüfverfahren; Beschichtungsgeometrie (IEC 60793-1-21:2001); Deutsche Fassung EN 60793-1-21:2002 Mehr |
| DIN EN 60793-1-22 ; VDE 0888-222:2002-10 | 2002-10 | Lichtwellenleiter - Teil 1-22: Messmethoden und Prüfverfahren; Längenmessung (IEC 60793-1-22:2001); Deutsche Fassung EN 60793-1-22:2002 Mehr |
| DIN EN 60793-1-46 ; VDE 0888-246:2002-09 | 2002-09 | Lichtwellenleiter - Teil 1-46: Messmethoden und Prüfverfahren; Überwachung der optischen Übertragungsänderungen (IEC 60793-1-46:2001, modifiziert); Deutsche Fassung EN 60793-1-46:2002 Mehr |
