DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN 32645
Chemische Analytik - Nachweis-, Erfassungs- und Bestimmungsgrenze unter Wiederholbedingungen - Begriffe, Verfahren, Auswertung
Chemical analysis - Decision limit, detection limit and determination limit under repeatability conditions - Terms, methods, evaluation
Einführungsbeitrag
Die Norm dient dazu, die Begriffe Nachweis-, Erfassungs- und Bestimmungsgrenze für Verfahren in der chemischen Analytik zu definieren. Hierzu werden Methoden zur Ermittlung der Nachweis-, Erfassungs- und Bestimmungsgrenze unter Wiederholbedingungen innerhalb eines Laboratoriums festgelegt.
Die Norm wurde vom Arbeitsausschuss NA 062-08-15 AA "Grundlagen der analytischen Atomspektroskopie" des NMP erstellt.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN 32645:1994-05 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) in Abschnitt 1 werden die Entscheidungskriterien für die Begriffe "Nachweisgrenze", "Erfassungsgrenze" und "Bestimmungsgrenze" erläutert; b) Abschnitt 2 (vorher "Formelzeichen und mathematische Definitionen") beinhaltet "Normative Verweisungen"; c) Abschnitt 3.1 beinhaltet Ausführungen zum Begriff "Analysenverfahren"; d) Abschnitt 4 (vorher "Leerprobe und Leerwert") beinhaltet "Symbole und Abkürzungen"; e) Abschnitt 5 (vorher "Kalibrierung") beinhaltet Erläuterungen zu den Begriffen Leerprobe, Leerwert, Kritischer Wert der Messgröße, Nachweisgrenze, Erfassungsgrenze und Bestimmungsgrenze; f) Abschnitt 6 "Berechnungen" (vorher "Nachweis und Erfassung eines Bestandteiles") beinhaltet mathematische Voraussetzungen sowie Berechnungsvorschriften und Methoden zur Schnellschätzung für Nachweisgrenze, Erfassungsgrenze und Bestimmungsgrenze; g) Abschnitt 7 "Vertrauensbereiche" (vorher "Bestimmung eines Bestandteiles") beinhaltet Erläuterungen zu Vertrauensbereichen von Standardabweichungen; h) Abschnitt 8 "Angabe von Analyseergebnissen und Entscheidungsgrenzen" (vorher "Kritischer Wert der Messgröße") beinhaltet Ausführungen zur Angabe von Analyseergebnissen und Entscheidungsgrenzen sowie notwendige Parameterangaben bei der Leerwert- und Kalibriergeradenmethode; i) Abschnitt 9 "Beispiel für die Ermittlung des kritischen Wertes der Messgröße, der Nachweisgrenze, der Erfassungsgrenze und der Bestimmungsgrenze", vorher Abschnitt 20.
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-15 AA - Grundlagen der analytischen Atomspektroskopie