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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

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Norm [AKTUELL]

IEC 61745
Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Lichtwellenleiter-Geometrie-Prüfanordnungen

Titel (englisch)

End-face image analysis procedure for the calibration of optical fibre geometry test sets

Ausgabe 1998-08
Originalsprache Englisch
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