NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Norm [AKTUELL]

DIN EN 62132-3
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 3: Stromeinspeisungs-(BCI-)Verfahren (IEC 62132-3:2007); Deutsche Fassung EN 62132-3:2007

Titel (englisch)

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Bulk current injection (BCI) method (IEC 62132-3:2007); German version EN 62132-3:2007

Einführungsbeitrag

Die Norm beschreibt das Stromeinspeisungsmessverfahren (englisch: bulk current injection, BCI) zur Messung der Störfestigkeit von integrierten Schaltungen (IC) gegenüber leitungsgeführten hochfrequenten Störungen, deren Ursache zum Beispiel abgestrahlte hochfrequente Störungen sind. Dieses Verfahren gilt nur für ICs, die äußere Drahtverbindungen, zum Beispiel zu einem Kabelbaum, besitzen. Es wird angewendet, um einen hochfrequenten Strom in einen Draht oder in eine Kombination von Drähten einzuspeisen.
Für die Norm ist das DKE/K 631 "Halbleiterbauelemente" zuständig.

Dokument: zitiert andere Dokumente

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

IEC/SC 47A - Integrierte Halbleiterschaltungen  

Ausgabe 2008-04
Originalsprache Deutsch
Preis ab 106,30 €
Inhaltsverzeichnis

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