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NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Über DKE Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien

Norm [AKTUELL]

DIN EN 62374
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007); German version EN 62374:2007

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

IEC/TC 47 - Halbleiterbauelemente

Ausgabe 2008-02

Originalsprache Deutsch

Preis ab 106,30 €

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Inhaltsverzeichnis

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