NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Projekt

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Direct Contact Charged Device Model (DC-CDM)

Kurzreferat

In diesem Vorhaben ist das Prüfverfahren gegen elektrostatische Entladungen nach dem Modell der aufgeladenen Bauelemente festgelegt, um die Empfindlichkeit Integrierter Schaltungen gegenüber solchen elektrostatischen Entladungen zu bewerten, denen IC vor dem Einbauen in elektronische Produkte ausge-setzt sind.

Beginn

2012-03-02

Geplante Dokumentnummer

IEC 47/2155/CDV

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

IEC/TC 47 - Halbleiterbauelemente  

Ihr Kontakt

Elena Rongen

Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

Tel.: +49 69 6308-429

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