NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Projekt
Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-6: Nahfeldmusteranalyse von Multimode-Lichtwellenleitern mit rechteckigem(n) Kern(en) unter Verwendung der Methode des begrenzten Lichtstroms
Kurzreferat
Dieses Dokument definiert das Verfahren der NFP-Analyse (Nahfeldmuster) eines Multimode-Lichtwellenleiters mit rechteckigem Kern (Kerne) unter Verwendung der EF-Analysemethode (umschlossener Fluss). Runde Lichtwellenleiter sind nicht Gegenstand dieses Dokuments. Es sind Lichtwellenleiter anwendbar, die an Multimode-Fasern mit Gradientenindex (z. B. OM3, A4i usw.) angeschlossen werden können.
Beginn
2024-10-08
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 62496-2-6
Projektnummer
02232615
