NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Projekt

Halbleitergeräte - Teil 14-12: Halbleitersensoren - Leistungsprüfverfahren für Gassensoren auf CMOS-Imager-Basis

Kurzreferat

Dieser Teil der IEC 60747 spezifiziert die Leistungsprüfverfahren für Gassensoren auf CMOS-Imager-Basis. Er enthält die Begriffe und Definitionen, die Prüfumgebung, das Prüfsystem, die Prüfmethode und den Prüfbericht. Dieses Dokument gilt sowohl für die Leistungsprüfung von CMOS-Gassensoren, die auf linsenloser Abbildung basieren, als auch für CMOS-Gassensoren, die auf Linsenabbildung basieren.

Beginn

2024-04-30

Geplante Dokumentnummer

DIN EN IEC 60747-14-12

Projektnummer

02232243

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/UK 631.1 - Einzel-Halbleiterbauelemente  

Ihr Kontakt

Elena Rongen

Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

Tel.: +49 69 6308-429

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