NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Projekt

Messung der Leitfähigkeit von Metalldünnschichten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren

Kurzreferat

Diese internationale Norm bezieht sich auf ein Verfahren zur Messung der Leitfähigkeit von dünnen Metallschichten bei Mikrowellen und Millimeterwellen-Frequenzen. Dieses Verfahren ermöglicht die Messung der Leitfähigkeit einer Metallfolie, die zur einer Metallfolie, die auf einem Substrat haftet, oder die Grenzflächenleitfähigkeit einer Metallschicht, die auf einem dielektrischen Substrat gebildet ist. Die Methode nutzt die Modenresonanzen höherer Ordnung eines Balanced-Type-Circular-Disk-Resonators (BCDR) für Breitbandmessungen mit einem einzigen Resonator zu ermöglichen. Das Dokument enthält Informationen über die Theorie, Ausrüstung, Verfahren und Anwendungsbereich der Methode.

Beginn

2023-10-18

Geplante Dokumentnummer

DIN EN IEC 61169-73

Projektnummer

02231880

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/UK 412.4 - Passive HF- und Mikrowellenbauelemente  

Ihr Kontakt

Thomas Sentko

Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

Tel.: +49 69 6308-209

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