DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Halbleiterbauelemente - Isolierung für Halbleiterbauelemente - Teil 1: Ausfallmechanismen und Messverfahren zur Bewertung der Festkörperisolierung für Halbleiterbauelemente
Kurzreferat
Diese internationale Norm legt die Grundlage für die Bewertung der Zuverlässigkeit der festen Isolierung in Halbleiterbauelementen. Sie soll nicht als eigenständige Norm für Bauteilzertifizierungen verwendet werden, sondern als Referenzpunkt für Bauteilnormen. Für Bauteilzertifizierungen sind deren spezifische Normen verwendet werden. Sie beschreibt die wichtigsten Ausfallmechanismen, das Alterungsverhalten und die nachfolgenden Ausfallmechanismen der isolierenden Halbleiterbauelemente. Darüber hinaus spezifiziert sie die Messmethoden, um diese Ausfallmechanismen der Isolation während der Entwicklung, Qualifikation und Produktion zu berücksichtigen. Wesentliche Eigenschaften des Isolationsmaterials - Sicherheitsprüfungen - Terminologie Diese internationale Norm legt die Ausfallmechanismen und Messverfahren, die wesentlichen Isolierstoffeigenschaften, die Sicherheitsprüfung und die Terminologie für die Bewertung der Zuverlässigkeit von Festkörperisolierungen für Halbleiterbauelemente fest.
Beginn
2023-04-21
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 63492-1
Projektnummer
02231553