NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Projekt

Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 49/1401/CD:2022); Text Deutsch und Englisch

Kurzreferat

Dieses Dokument gilt für die Herstellung von synthetischen Quarz-, Lithiumniobat- (LN), Lithiumtantalat- (LT), Lithiumtetraborat- (LBO) und Lanthangalliumsilikat- (LGS) Einkristallscheiben, die zur Verwendung als Substrate bei der Herstellung von akustischen Oberflächenwellenfiltern und -resonatoren (SAW) bestimmt sind.

Beginn

2022-08-10

Geplante Dokumentnummer

DIN EN IEC 62276

Projektnummer

02231143

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 642 - Piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion  

Ersatzvermerk

Vorgesehen als Ersatz für DIN EN 62276:2017-08

Norm-Entwurf

Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 49/1401/CD:2022); Text Deutsch und Englisch
2023-05
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Vorgänger-Dokument(e)

Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 62276:2016); Deutsche Fassung EN 62276:2016
2017-08

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Daniel Failer

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