DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Halbleiterbauelemente - Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne - Teil 2: Konzept des Einsatzprofils (IEC 63287-2:2023); Deutsche Fassung EN IEC 63287-2:2023
Kurzreferat
Dieser Teil der IEC 63287 gibt Richtlinien für die Entwicklung von Plänen zur Zuverlässigkeitsqualifizierung unter Verwendung des Konzepts des Einsatzprofils, basierend auf den Umgebungsbedingungen und dem vorgesehenen Einsatz des Produkts. Dieses Dokument ist nicht für militärische und raumfahrtbezogene Anwendungen bestimmt.
Beginn
2021-06-25
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 63287-2
Projektnummer
02230363
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
Norm-Entwurf
Halbleiterbauelemente - Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne - Teil 2: Konzept des Einsatzprofils (IEC 47/2718/CDV:2021); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63287-2:2021
2022-06
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