DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
EMV-IC-Modellierung - Teil 6: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei Störfestigkeit gegen Impulse - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Impulse (ICIM-CPI) (IEC 62433-6:2020); Deutsche Fassung EN IEC 62433-6:2020
Kurzreferat
Dieser Teil der Normenreihe DIN EN 62433 (VDE 0847-33) legt einen Ablauf für die Ableitung eines Makromodells fest, mit dem die Simulation der Störfestigkeit gegen vorübergehende leitungsgeführte Störungen einer integrierten Schaltung (IC) gegenüber Impulsen, wie etwa die Entladung statischer Elektrizität (ESD) und schnelle transiente elektrische Störgröße (EFT), möglich ist.
Beginn
2017-08-16
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 62433-6
Projektnummer
02227775
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
Norm-Entwurf
EMV-IC-Modellierung - Teil 6: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei Störfestigkeit gegen Impulse - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Impulse (ICIM-CPI) (IEC 47A/1019/CD:2017)
2017-11
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