NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Projekt
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 10: Druckprüfverfahren an zylinderförmigen Mikroproben für Werkstoffe der Mikrosystemtechnik
Beginn
2009-07-03
Geplante Dokumentnummer
IEC 47F/63/CDV
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente