NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Projekt
Optoelektronische Halbleiterbauelemente für Anwendungen in Lichtwellenleitersystemen - Teil 2: Messverfahren (IEC 62007-2:2009)
Kurzreferat
In diesem Teil von IEC 67002 werden die Messverfahren für optoelektronische Halbleiterbauelemente beschrieben, die in Lichtwellenleitersystemen und teilsystemen Anwendung finden.
Beginn
2007-06-22
Geplante Dokumentnummer
prEN 62007-2
