DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 63185
Messung der komplexen Dielektrizitätskonstante für verlustarme dielektrische Substrate nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren (IEC 46F/672/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63185:2024
Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method (IEC 46F/672/CDV:2024); German and English version prEN IEC 63185:2024
Einführungsbeitrag
Dieses Dokument bezieht sich auf ein Messverfahren für die komplexe Permittivität von dielektrischen Substraten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen. Dieses Verfahren wurde entwickelt, um die dielektrischen Eigenschaften verlustarmer Werkstoffe zu bewerten, die in Mikrowellen- und Millimeterwellenschaltungen und -geräten verwendet werden. Es verwendet Moden höherer Ordnung eines symmetrischen Kreisscheibenresonators und ermöglicht die Messung der Bandbreite dielektrischer Substrate unter Verwendung eines einzelnen Resonators, wobei die Wirkung von Anregungsöffnungen auf der Grundlage der Modenanpassungsanalyse berücksichtigt wird. Dieses Dokument beinhaltet die Grundlagen zur Messung, die Beschreibung des Messaufbaus, die Kalibrierung und die Durchführung und Auswertung der Messung. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments. Gegenüber DIN EN IEC 63185:2022-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Erweiterung der oberen Grenzfrequenz für Messungen der komplexen Dielektrizitätskonstante mit der BCDR-Methode. Dieses Dokument erhöht durch seine Anwendung die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender und gibt Prüflaboren und Herstellern definierte Angaben zur Prüfung.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN IEC 63185:2022-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Erweiterung der oberen Grenzfrequenz für Messungen der komplexen Dielektrizitätskonstante mit der BCDR-Methode.
