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3. Normenausschüsse
4. DKE

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Einführungsbeitrag

Dieser Teil von IEC 60352 ist anwendbar für Crimpverbindungen, die mit Folgenden hergestellt sind: - entsprechend ausgelegten nichtisolierten oder vorisolierten Crimphülsen, und - Litzenleiter mit einem Querschnitt von 0,05 mm² bis 10 mm², oder - Massivdrähte mit einem Durchmesser von 0,25 mm bis 3,6 mm zur Verwendung in Elektro- und Elektronikgeräten. Neben den Prüfverfahren sind Angaben über die Werkstoffe und Daten aus der industriellen Erfahrung enthalten, damit elektrisch stabile Verbindungen unter vorgeschriebenen Umweltbedingungen hergestellt werden können. Es werden die Begriffe, die Verarbeitung, die Prüfungen und Prüfverfahren und die unterschiedlichen Prüfprogramme festgelegt. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments. Es wird darauf hingewiesen, dass einige Branchen (zum Beispiel Automobil-, Raumfahrt-, Nuklear- und Rüstungsindustrie) unter Umständen über spezifische Verarbeitungsnormen und/oder Qualitätsanforderungen verfügen, die nicht im Anwendungsbereich dieses Dokuments liegen. Gegenüber DIN EN 60352-2:2014-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) der Teil über "Anwendungshinweise" (vorher Abschnitt 6 bis Abschnitt 15) wurde in Anhang A (informativ) verschoben; b) mehrere Definitionen wurden hinzugefügt (Draht, Kabel, Crimpen, Pressverbindung/Crimpverbindung, Crimpkontakt, Anschlusspunkt/Pol/Klemme, Kabelschuh, vorisolierter Kabelschuh, Anschluss, Verbindungsmaterial, Spleiß, Isolierungsunterstützung, Isolierungshalterung, vorisolierte Pressverbindung/Crimpverbindung, Crimpwerkzeug, Aufnahme, Positionierstück, Auslösesperre eines Crimpwerkzeugs, Crimp-Amboss, Crimp-Stempel, Crimphöhe, Crimp-Prüfloch, Drahtgrößenbereich des Kontaktes, Nennquerschnitt); c) im Abschnitt Verarbeitung wurde eine dreistufige Einteilung nach Endproduktstufe eingeführt, die auf dem erwarteten Zuverlässigkeitsniveau der Endanwendung beruht, für die die entsprechenden Crimpverbindungen geeignet sind. Die Einteilung entspricht in etwa der in IEC 61191-1:2018, 4.3, für gelötete elektrische und elektronische Baugruppen; d) zur besseren Verständlichkeit wurde der bisherige Unterabschnitt 4.5 "Crimpverbindungen", jetzt neu nummeriert und umbenannt zu 5.5 "Voraussetzungen für Crimpverbindungen", in mehrere Unterabschnitte der dritten Ebene mit entsprechenden Titeln aufgeteilt; e) zulässige Einzeldrahtbeschädigung wurde mit Verweisung auf die dreistufige Einteilung nach Endanwendung für die Herstellung von Proben eingeführt; f) der Querschnitt von Leitern für Prüfzwecke darf bei Drähten mit Nennquerschnitten größer 2,5 mm² der (handelsübliche) Nennquerschnitt statt des (tatsächlichen) geometrischen Querschnitts sein (siehe 5.4.3); g) in 5.4.5 wird nun die Konzentrizität der Drahtisolierung berücksichtigt; h) der bisherige Abschnitt 5.2.1 "Allgemeine Untersuchungen" wurde neu nummeriert und umbenannt zu 7.1 "Allgemeine Prüfung von Crimphülsen und Drähten" (Prüfung von Teilen wie weiter unten benannt) und ein neuer Unterabschnitt 7.2 "Prüfung der Crimpmaße" wurde hinzugefügt, der die Prüfung der Maße nach dem Crimpen behandelt und mehrere Unterabschnitte der dritten Ebene umfasst: 7.2.1 "Crimphöhe Ch, Crimpbreite Cw und messbare Crimpbreite Cwm", 7.2.2 "Kontaktverformung nach dem Crimpen", 7.2.3 "Sichtprüfung von Isolationsstrecke und Leiterüberstand", 7.2.4 "Sichtprüfung von Spleiß-Crimpverbindungen", 7.2.5 "Sichtprüfung von Crimpverbindungen an geschlossenen (gedrehten) Crimphülsen", 7.2.6 "Sichtprüfung von Crimpverbindungen an offenen Crimphülsen (B-Crimp)", 7.2.7 "Sichtprüfung von Crimpverbindungen mit offenen Crimphülsen mit Isolierungshalterung"; i) die Anforderungen an die Auszugskraft (Zugfestigkeit) zur Erfüllung der Sicherheitsanforderungen von Crimpverbindungen aus Ausgabe 2.1, Tabelle 1, wurden in 7.3.1 übernommen, hier neu nummeriert als Tabelle 5; interpolierte Werte für die am häufigsten verwendeten Querschnitte 0,34 mm² und 0,37 mm² wurden hinzugefügt. Verweisung auf IEC 61210, da die Quelle dieser Sicherheitswerte aufgrund teilweiser Ungenauigkeit gestrichen wurde. Optionale Festlegung höherer Anforderungen an die Auszugskraft, basierend auf der Einteilung nach Endprodukt entsprechend 5.1, die repräsentativer sind für die Werte, die auf Grundlage des Typs der Crimphülse, der Art des Crimpens sowie des Werkstoffs und des Oberflächenüberzugs von Hülse und Draht erreicht werden können, wurden in A.7.3 eingeführt; j) in 7.3.2 wurde eine Mikroschliffprüfung hinzugefügt (Die Entscheidung, ob dies für bereits qualifizierte Konstruktionen, die sich aufgrund von Erfahrungen bewährt haben, optional oder verbindlich ist, steht noch aus); k) in 7.3.7 wurde eine Schwingungsprüfung (optional) hinzugefügt; l) in 7.4.3 wurde eine Prüfung der Strombelastbarkeit (optional) hinzugefügt; m) in 7.6.2 wurde eine Korrosionsprüfung mit strömendem Mischgas (optional) hinzugefügt; n) "Crimpen bei niedriger Temperatur" (vorher 5.4.2.5) wurde in 7.5.6 fertiggestellt, indem das in Ausgabe 1, 11.4.5, bereits vorhandene Prüfverfahren neu eingetragen wurde (Es wurde keine Einigung darüber erzielt, dies in die Normenreihe IEC 60512 zu verschieben); o) die Probentypen wurden erweitert: Eine neue Probe Typ A wurde hinzugefügt, Typ B ist der bisherige Typ A, Typ C ist der bisherige Typ B, Typ D ist der bisherige Typ C, Typ E ist der bisherige Typ D, geändert durch Hinzufügen von Referenzdrähten, Typ F ist der bisherige Typ E, und neue Probentypen G und H wurden für die Durchführung von Prüfungen an Spleißen hinzugefügt; p) die normativen Verweisungen und die Literaturhinweise wurden aktualisiert und nach Bedarf erweitert. Dieses Dokument erhöht durch seine Anwendung die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender, gibt Prüflaboren und Herstellern definierte Angaben zur Prüfung.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 60352-2:2014-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) der Teil über „Anwendungshinweise“ (vorher Abschnitt 6 bis Abschnitt 15) wurde in Anhang A (informativ) verschoben; b) mehrere Definitionen wurden hinzugefügt (Draht, Kabel, Crimpen, Pressverbindung/Crimpverbindung, Crimpkontakt, Anschlusspunkt/Pol/Klemme, Kabelschuh, vorisolierter Kabelschuh, Anschluss, Verbindungsmaterial, Spleiß, Isolierungsunterstützung, Isolierungshalterung, vorisolierte Pressverbindung/Crimpverbindung, Crimpwerkzeug, Aufnahme, Positionierstück, Auslösesperre eines Crimpwerkzeugs, Crimp-Amboss, Crimp-Stempel, Crimphöhe, Crimp-Prüfloch, Drahtgrößenbereich des Kontaktes, Nennquerschnitt); c) im Abschnitt Verarbeitung wurde eine dreistufige Einteilung nach Endproduktstufe eingeführt, die auf dem erwarteten Zuverlässigkeitsniveau der Endanwendung beruht, für die die entsprechenden Crimpverbindungen geeignet sind. Die Einteilung entspricht in etwa der in IEC 61191-1:2018, 4.3, für gelötete elektrische und elektronische Baugruppen; d) zur besseren Verständlichkeit wurde der bisherige Unterabschnitt 4.5 „Crimpverbindungen“, jetzt neu nummeriert und umbenannt zu 5.5 „Voraussetzungen für Crimpverbindungen“, in mehrere Unterabschnitte der dritten Ebene mit entsprechenden Titeln aufgeteilt; e) zulässige Einzeldrahtbeschädigung wurde mit Verweisung auf die dreistufige Einteilung nach Endanwendung für die Herstellung von Proben eingeführt; f) der Querschnitt von Leitern für Prüfzwecke darf bei Drähten mit Nennquerschnitten größer 2,5 mm2 der (handelsübliche) Nennquerschnitt statt des (tatsächlichen) geometrischen Querschnitts sein (siehe 5.4.3); g) in 5.4.5 wird nun die Konzentrizität der Drahtisolierung berücksichtigt; h) der bisherige Abschnitt 5.2.1 „Allgemeine Untersuchungen“ wurde neu nummeriert und umbenannt zu 7.1 „Allgemeine Prüfung von Crimphülsen und Drähten“ (Prüfung von Teilen wie weiter unten benannt) und ein neuer Unterabschnitt 7.2 „Prüfung der Crimpmaße“ wurde hinzugefügt, der die Prüfung der Maße nach dem Crimpen behandelt und mehrere Unterabschnitte der dritten Ebene umfasst: 7.2.1 „Crimphöhe Ch, Crimpbreite Cw und messbare Crimpbreite Cwm“, 7.2.2 „Kontaktverformung nach dem Crimpen“, 7.2.3 „Sichtprüfung von Isolationsstrecke und Leiterüberstand“, 7.2.4 „Sichtprüfung von Spleiß-Crimpverbindungen“, 7.2.5 „Sichtprüfung von Crimpverbindungen an geschlossenen (gedrehten) Crimphülsen“, 7.2.6 „Sichtprüfung von Crimpverbindungen an offenen Crimphülsen (B-Crimp)“, 7.2.7 „Sichtprüfung von Crimpverbindungen mit offenen Crimphülsen mit Isolierungshalterung“; i) die Anforderungen an die Auszugskraft (Zugfestigkeit) zur Erfüllung der Sicherheitsanforderungen von Crimpverbindungen aus Ausgabe 2.1, Tabelle 1, wurden in 7.3.1 übernommen, hier neu nummeriert als Tabelle 5; interpolierte Werte für die am häufigsten verwendeten Querschnitte 0,34 mm2 und 0,37 mm2 wurden hinzugefügt. Verweisung auf IEC 61210, da die Quelle dieser Sicherheitswerte aufgrund teilweiser Ungenauigkeit gestrichen wurde. Optionale Festlegung höherer Anforderungen an die Auszugskraft, basierend auf der Einteilung nach Endprodukt entsprechend 5.1, die repräsentativer sind für die Werte, die auf Grundlage des Typs der Crimphülse, der Art des Crimpens sowie des Werkstoffs und des Oberflächenüberzugs von Hülse und Draht erreicht werden können, wurden in A.7.3 eingeführt; j) in 7.3.2 wurde eine Mikroschliffprüfung hinzugefügt (Anmerkung des Bearbeiters: Die Entscheidung, ob dies für bereits qualifizierte Konstruktionen, die sich aufgrund von Erfahrungen bewährt haben, optional oder verbindlich ist, steht noch aus); k) in 7.3.7 wurde eine Schwingungsprüfung (optional) hinzugefügt; l) in 7.4.3 wurde eine Prüfung der Strombelastbarkeit (optional) hinzugefügt; m) in 7.6.2 wurde eine Korrosionsprüfung mit strömendem Mischgas (optional) hinzugefügt; n) „Crimpen bei niedriger Temperatur“ (vorher 5.4.2.5) wurde in 7.5.6 fertiggestellt, indem das in Ausgabe 1, 11.4.5, bereits vorhandene Prüfverfahren neu eingetragen wurde (Anmerkung des Bearbeiters: Es wurde keine Einigung darüber erzielt, dies in die Normenreihe IEC 60512 zu verschieben); o) die Probentypen wurden erweitert: Eine neue Probe Typ A wurde hinzugefügt, Typ B ist der bisherige Typ A, Typ C ist der bisherige Typ B, Typ D ist der bisherige Typ C, Typ E ist der bisherige Typ D, geändert durch Hinzufügen von Referenzdrähten, Typ F ist der bisherige Typ E, und neue Probentypen G und H wurden für die Durchführung von Prüfungen an Spleißen hinzugefügt; p) die normativen Verweisungen und die Literaturhinweise wurden aktualisiert und nach Bedarf erweitert.

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 651 - Steckverbinder