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Projekte von DKE/K 631

IEC 110/23/NP 2004-07-02 (Future IEC 61988-5) Plasma Display Panels - Part 5: Generic Specification Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1744/NP 2004-01-16 Complete update of IEC 60749. Addition of test methods (together with proposed number): IEC 60749-20-1, IEC 60749-35, IEC 60749-37, IEC 60749-38, IEC 60749-39 Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47A/730/CD 2003-11-28 Integrierte Schaltungen - Messung der Störfestigkeit gegen Impulse - Teil 2: Impulseinspeisungsverfahren (IEC 47A/730/CD:2005) Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1725A/NP 2003-11-07 WITHDRAWAL of 47/1725/NP: IEC 60747-1: SEMICONDUCTOR DEVICES: Part 1: General Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1473/NP 2000-02-18 Proposal from the Netherlands NC: Gate oxide breakdown tests Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1432/NP 1999-07-16 Proposal of The Netherlands NC: Electromigration Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1434/NP 1999-07-16 Proposal of The Netherlands NC: Triangular voltage sweep Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1433/NP 1999-07-16 Proposal of The Netherlands NC: Hot carrier test on MOS transistors Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1435/NP 1999-07-16 Proposal of The Netherlands NC: Metalization stress void inspection Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47A/623/CD 1999-06-18 IEC 62147: Integrierte Schaltungen - Einheitliche Qualifizierungsnorm zum Erhalt der IECQ- und Endanwender-Zertifizierung (IEC 47A/593/CD:2000) Mehr  Kontakt zu DIN