Projekte von DKE/K 631

IEC 47/1725A/NP 2003-11-07 WITHDRAWAL of 47/1725/NP: IEC 60747-1: SEMICONDUCTOR DEVICES: Part 1: General Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1473/NP 2000-02-18 Proposal from the Netherlands NC: Gate oxide breakdown tests Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1432/NP 1999-07-16 Proposal of The Netherlands NC: Electromigration Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1434/NP 1999-07-16 Proposal of The Netherlands NC: Triangular voltage sweep Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1433/NP 1999-07-16 Proposal of The Netherlands NC: Hot carrier test on MOS transistors Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1435/NP 1999-07-16 Proposal of The Netherlands NC: Metalization stress void inspection Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47A/623/CD 1999-06-18 IEC 62147: Integrierte Schaltungen - Einheitliche Qualifizierungsnorm zum Erhalt der IECQ- und Endanwender-Zertifizierung (IEC 47A/593/CD:2000) Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47A/596/CD 1998-07-24 IEC 62113: Integrierte Schaltungen - Abkündigungsverfahren für Lieferanten und Verteiler (IEC 47A/596/CD:2000) Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47/1423/CDV 1998-05-08 Amendment to the IEV Chapter 521: Semiconductor devices and integrated circuits Mehr  Kontakt zu DIN 
IEC 47C/145/CDV 1996-06-07 Measuring method for carrier to noise ratio an analogue laser Mehr  Kontakt zu DIN