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Veröffentlichungen von DKE/K 631

DIN EN 62374 2008-02 Norm Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62374-1 2011-06 Norm Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen (IEC 62374-1:2010); Deutsche Fassung EN 62374-1:2010 + AC:2011 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62415 2010-12 Norm Halbleiterbauelemente - Konstantstrom-Prüfverfahren zur Elektromigration (IEC 62415:2010); Deutsche Fassung EN 62415:2010 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62416 2010-12 Norm Halbleiterbauelemente - Hot-Carrier-Prüfverfahren für MOS-Transistoren (IEC 62416:2010); Deutsche Fassung EN 62416:2010 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62417 2010-12 Norm Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62417:2010); Deutsche Fassung EN 62417:2010 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62418 2010-12 Norm Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration (IEC 62418:2010); Deutsche Fassung EN 62418:2010 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62433-2 ; VDE 0847-33-2:2017-10 2017-10 Norm EMV-IC-Modellierung - Teil 2: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung - Modellierung leitungsgeführter Aussendungen (ICEM-CE) (IEC 62433-2:2017); Deutsche Fassung EN 62433-2:2017 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62433-3 ; VDE 0847-33-3:2017-10 2017-10 Norm EMV-IC-Modellierung - Teil 3: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung - Modellierung von abgestrahlten Aussendungen (ICEM-RE) (IEC 62433-3:2017); Deutsche Fassung EN 62433-3:2017 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62433-4 ; VDE 0847-33-4:2017-05 2017-05 Norm EMV-IC-Modellierung - Teil 4: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens der HF-Störfestigkeit - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störungen (ICIM-CI) (IEC 62433-4:2016); Deutsche Fassung EN 62433-4:2016 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62433-6 ; VDE 0847-33-6:2017-11 2017-11 Norm-Entwurf EMV-IC-Modellierung - Teil 6: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei Störfestigkeit gegen Impulse - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Impulse (ICIM-CPI) (IEC 47A/1019/CD:2017) Mehr  Kaufen bei DIN Media