Veröffentlichungen von DKE/K 631

DIN EN 62416 2010-12 Norm Halbleiterbauelemente - Hot-Carrier-Prüfverfahren für MOS-Transistoren (IEC 62416:2010); Deutsche Fassung EN 62416:2010 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62417 2010-12 Norm Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62417:2010); Deutsche Fassung EN 62417:2010 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62418 2010-12 Norm Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration (IEC 62418:2010); Deutsche Fassung EN 62418:2010 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62433-2 ; VDE 0847-33-2:2017-10 2017-10 Norm EMV-IC-Modellierung - Teil 2: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung - Modellierung leitungsgeführter Aussendungen (ICEM-CE) (IEC 62433-2:2017); Deutsche Fassung EN 62433-2:2017 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62433-3 ; VDE 0847-33-3:2017-10 2017-10 Norm EMV-IC-Modellierung - Teil 3: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung - Modellierung von abgestrahlten Aussendungen (ICEM-RE) (IEC 62433-3:2017); Deutsche Fassung EN 62433-3:2017 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62433-4 ; VDE 0847-33-4:2017-05 2017-05 Norm EMV-IC-Modellierung - Teil 4: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens der HF-Störfestigkeit - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störungen (ICIM-CI) (IEC 62433-4:2016); Deutsche Fassung EN 62433-4:2016 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62435-1 ; VDE 0884-135-1:2017-10 2017-10 Norm Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 1: Allgemeines (IEC 62435-1:2017); Deutsche Fassung EN 62435-1:2017 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62435-2 ; VDE 0884-135-2:2017-10 2017-10 Norm Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 2: Schädigungsmechanismen (IEC 62435-2:2017); Deutsche Fassung EN 62435-2:2017 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62435-5 ; VDE 0884-135-5:2017-10 2017-10 Norm Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 5: Chip- und Wafererzeugnisse (IEC 62435-5:2017); Deutsche Fassung EN 62435-5:2017 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62779-1 ; VDE 0884-79-1:2017-01 2017-01 Norm Halbleiterbauelemente - Halbleiterschnittstelle zur Kommunikation über den menschlichen Körper - Teil 1: Allgemeine Anforderungen (IEC 62779-1:2016); Deutsche Fassung EN 62779-1:2016 Mehr  Kaufen bei DIN Media