Veröffentlichungen von DKE/K 631

DIN EN 62215-3 ; VDE 0847-23-3:2014-04 2014-04 Norm Integrierte Schaltungen - Messung der Störfestigkeit gegen Impulse - Teil 3: Asynchrones Transienteneinspeisungs-Verfahren (IEC 62215-3:2013); Deutsche Fassung EN 62215-3:2013 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62228-2 ; VDE 0847-28-2:2017-09 2017-09 Norm Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 2: LIN-Sende-Empfangsgeräte (IEC 62228-2:2016); Deutsche Fassung EN 62228-2:2017 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62258-1 ; VDE 0884-101:2011-04 2011-04 Norm Halbleiter-Chip-Erzeugnisse - Teil 1: Beschaffung und Anwendung (IEC 62258-1:2009); Deutsche Fassung EN 62258-1:2010 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62258-2 2011-12 Norm Halbleiter-Chip-Erzeugnisse - Teil 2: Datenaustausch-Formate (IEC 62258-2:2011); Englische Fassung EN 62258-2:2011 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62258-5 2007-02 Norm Halbleiter-Chip-Erzeugnisse - Teil 5: Anforderungen für Angaben hinsichtlich der elektrischen Simulation (IEC 62258-5:2006); Deutsche Fassung EN 62258-5:2006 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62258-6 2007-02 Norm Halbleiter-Chip-Erzeugnisse - Teil 6: Anforderungen für Angaben hinsichtlich der thermischen Simulation (IEC 62258-6:2006); Deutsche Fassung EN 62258-6:2006 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62373 2007-01 Norm Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62373:2006); Deutsche Fassung EN 62373:2006 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62374 2008-02 Norm Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62374-1 2011-06 Norm Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen (IEC 62374-1:2010); Deutsche Fassung EN 62374-1:2010 + AC:2011 Mehr  Kaufen bei DIN Media
DIN EN 62415 2010-12 Norm Halbleiterbauelemente - Konstantstrom-Prüfverfahren zur Elektromigration (IEC 62415:2010); Deutsche Fassung EN 62415:2010 Mehr  Kaufen bei DIN Media