Veröffentlichungen von NA 062-08-16 AA

ISO 23124 2024-04 Norm Chemische Oberflächenanalyse – Messung der lateralen und axialen Auflösungen eines Raman-Mikroskops Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 23170 2022-06 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Tiefenprofilierung - Zerstörungsfreie Tiefenprofilierung nanoskaliger Schwermetalloxid-Dünnschichten auf Si-Substraten mit mittelenergetischer Ionenstreuung Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 23729 2022-07 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Rasterkraftmikroskopie - Leitfaden für Wiederherstellungsverfahren von durch endliche Sondengröße geweiteten Rasterkraftmikroskopiebildern Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 23812 2009-04 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Verfahren zur Tiefenkalibrierung für Silicium mit Mehrfach-Delta-Schicht-Bezugswerkstoffen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 23830 2008-11 Norm Chemische Analytik an Oberflächen - Sekundärionenmassenspektromtrie - Wiederholpräzision und Konstanz der relativen Intensitätsskala bei der statischen Sekundärionenmassenspektromtrie Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 24236 2005-04 Norm Chemische Analytik an Oberflächen - Augerelektronen-Spektroskopie - Wiederholpräzision und Konstanz der Intensitätsskala Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 24237 2005-06 Norm Chemische Analytik an Oberflächen - Röntgenphotoelektronen-Spektroskopie - Wiederholpräzision und Konstanz der Intensitätsskala Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 24417 2022-09 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Analyse metallischer Nanoschichten von Substraten auf Eisenbasis mittels optischer Glimmentladungs-Emissionsspektrometrie Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 24465 2023-01 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Bestimmung des minimalen Nachweisvermögens eines Oberflächenplasmonresonanz-Gerätes Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 27911 2011-08 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops Mehr  Kaufen bei DIN Media