Veröffentlichungen von NA 062-08-16 AA

ISO/TS 22933 2022-04 Vornorm Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Verfahren zur Messung der Massenauflösung in SIMS Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO/TS 25138 2019-08 Vornorm Chemische Oberflächenanalyse - Analyse von Metalloxidfilmen mit optischer Glimmentladungs-Emissionsspektrometrie Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 5861 2024-06 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronenspektrometrie - Methode der Intensitätskalibrierung für mit Quarzkristallen monochromatisierte Al Kα XPS-Geräte Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 10810 2019-08 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronenspektroskopie - Analyseleitfaden Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 11039 2012-02 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Messung der Driftrate Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 11505 2012-12 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Allgemeine Verfahren zur quantitativen Tiefenprofilanalyse der Zusammensetzung mittels optischer Glimmentladungs-Emissionsspektrometrie Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 11775 2015-10 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Bestimmung der Cantilever-Federkonstantennormalen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 11952 2019-05 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Bestimmung geometrischer Kenngrößen mit Rastersondenmikroskopie: Kalibrierung von Messsystemen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 12406 2010-11 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektroskopie - Verfahren zur Tiefenprofilanalyse von Arsen in Silicium Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 13083 2015-08 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Standards zur Definition und Kalibrierung der räumlichen Auflösung von Rasterausbreitungswiderstandsmikroskopie und Rasterkapazitätsmikroskopie Mehr  Kaufen bei DIN Media