Norm [VERÖFFENTLICHT]

DIN 50450-2
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen; Bestimmung der Sauerstoffverunreinigung in Stickstoff, Argon, Helium, Neon und Wasserstoff mittels einer galvanischen Meßzelle

Englischer Titel:

Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of oxygen impurity in N<sub>2</sub>, Ar, He, Ne and H<sub>2</sub> by using a galvanic cell

Beschreibung

Die Norm soll das Prüfverfahren zur Bestimmung des Sauerstoffgehaltes in den Träger- und Dotiergasen_N<(Index)2>,_Ar, He,_Ne und H<(Index)2> festlegen.

Ausgabedatum

1991-03

Erarbeitendes Gremium

NA 062-05-73 AA - Gasanalyse und Gasbeschaffenheit

Nationales Spiegelgremium

NA 062-05-73 AA - Gasanalyse und Gasbeschaffenheit

Handlungsfelder / Arbeitskreise

Qualitätsinfrastruktur

Themengebiete / Unterarbeitskreise

Messtechnik

Themen / Arbeitsgruppen

Gasanalyse