NA 062
DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
DIN EN ISO 3882 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
---|---|---|
DIN EN ISO 2361 | 1995-04 | Elektrolytisch erzeugte Nickelschichten auf magnetischen und nichtmagnetischen Grundmetallen - Messen der Schichtdicke - Magnetverfahren (ISO 2361:1982); Deutsche Fassung EN ISO 2361:1995 Mehr |
DIN EN ISO 3497 | 2001-12 | Metallische Schichten - Schichtdickenmessung - Röntgenfluoreszenz-Verfahren (ISO 3497:2000); Deutsche Fassung EN ISO 3497:2000 Mehr |
DIN EN ISO 3543 | 2001-12 | Metallische und nichtmetallische Schichten - Dickenmessung - Betarückstreu-Verfahren (ISO 3543:2000); Deutsche Fassung EN ISO 3543:2000 Mehr |
DIN EN ISO 3868 | 1995-01 | Metallische und andere anorganische Schichten - Messung von Schichtdicken - Fizeau-Vielstrahl-Interferenz-Verfahren (ISO 3868:1976); Deutsche Fassung EN ISO 3868:1994 Mehr |
DIN EN ISO 4518 | 2021-07 | Metallische Überzüge - Messen der Schichtdicke - Profilometrisches Verfahren (ISO 4518:2021); Deutsche Fassung EN ISO 4518:2021 Mehr |
DIN EN ISO 9220 | 2022-05 | Metallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022 Mehr |
ISO 10111 | 2019-01 | Metallische und andere anorganische Schichten - Messung der flächenbezogenen Masse - Übersicht über gravimetrische und chemische Analyseverfahren Mehr |
ISO 1463 | 2021-05 | Metall- und Oxidschichten - Schichtdickenmessung - Mikroskopisches Verfahren Mehr |
ISO 16866 | 2020-10 | Metallische und andere anorganische Überzüge - Schichtpotentialmessung von galvanischen Mehrfach-Nickelschichtsystemen (STEP-Test) Mehr |
ISO 2128 | 2010-09 | Anodisieren von Aluminium und Aluminiumlegierungen - Bestimmung der Dicke von anodisch erzeugten Oxidschichten - Zerstörungsfreie Messung mit Lichtschnittmikroskop Mehr |