NA 062
DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
DIN EN ISO 17200 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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ISO 14488 | 2007-12 | Partikelförmige Stoffe - Probennahme und Probenteilung für die Bestimmung der Eigenschaften partikelförmiger Stoffe Mehr |
ISO 14887 | 2000-09 | Probenvorbereitung - Verfahren zur Dispergierung von Pulvern in Flüssigkeiten (ISO 14887:2000) Mehr |
ISO 18757 | 2003-12 | Hochleistungskeramik - Bestimmung der spezifischen Oberfläche keramischer Pulver durch Gasadsorption nach dem BET-Verfahren Mehr |
ISO 21363 | 2020-06 | Nanotechnologien - Messungen von Partikelgrößen- und Partikelformverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie Mehr |
ISO 2859-1 | 1999-11 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenanweisungen für die Prüfung einer Serie von Losen anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler Mehr |
ISO 28591 | 2017-10 | Sequentielle Stichprobenprüfung anhand qualitativer Merkmale Mehr |
ISO 2859-1 AMD 1 | 2011-06 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenpläne für die Prüfung einer Serie von Losen - Mehr |
ISO 2859-1 Technical Corrigendum 1 | 2001-03 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenanweisungen für die Prüfung einer Serie von Losen anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler; Korrektur 1 Mehr |
ISO 2859-2 | 2020-02 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 2: Nach der rückzuweisenden Qualitätsgrenzlage (LQ) geordnete Stichprobenanweisungen für die Prüfung einzelner Lose Mehr |
ISO 2859-3 | 2005-05 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 3: Skip-Lot-Verfahren Mehr |