NA 005
DIN-Normenausschuss Bauwesen (NABau)
DIN EN 17488 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| ISO 25178-3 | 2012-07 | Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 3: Spezifikationsoperatoren Mehr |
| ISO 25178-6 | 2010-01 | Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 6: Klassifizierung von Methoden zur Messung der Oberflächenbeschaffenheit Mehr |
| ISO 25178-600 | 2019-02 | Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 600: Messtechnische Merkmale für flächentopographische Messverfahren Mehr |
| ISO 25178-601 | 2010-07 | Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 601: Merkmale von berührend messenden Geräten (mit Taster) Mehr |
| ISO 25178-602 | 2010-07 | Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 602: Merkmale von berührungslos messenden Geräten (mit chromatisch konfokaler Sonde) Mehr |
| ISO 25178-603 | 2013-10 | Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 603: Merkmale von berührungslos messenden Geräten (phasenschiebende interferometrische Mikroskopie) Mehr |
| ISO 25178-604 | 2013-08 | Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 604: Merkmale von berührungslos messenden Geräten (Weißlicht-Interferometrie) Mehr |
| ISO 25178-605 | 2014-02 | Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 605: Merkmale von berührungslos messenden Geräten (Punkt-Autofokus-Sensor) Mehr |
| ISO 25178-606 | 2015-06 | Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 606: Merkmale von berührungslos messenden Geräten (Fokusvariation) Mehr |
| ISO 25178-607 | 2019-03 | Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 607: Merkmale von berührungslos messenden Geräten (konfokale Mikroskopie) Mehr |
