NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 175301-803 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| EN 60512-23-3 | 2001-02 | Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-3: Prüfung 23c: Schirmwirkung von Steckverbindern und Zubehör (IEC 60512-23-3:2000) Mehr |
| EN 60512-23-4 | 2001-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-4: Prüfungen der Schirmung und Dämpfung; Prüfung 23d: Reflexion in Übertragungsstrecken im Zeitbereich (IEC 60512-23-4:2001) Mehr |
| EN 60512-23-7 | 2005-03 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-7: Prüfungen der Schirmung und Dämpfung - Prüfung 23g: Effektive Transferimpedanz von Steckverbindern (IEC 60512-23-7:2005) Mehr |
| EN 60512-2-5 | 2003-07 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-5: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands; Prüfung 2e: Kontaktstörungen (IEC 60512-2-5:2003) Mehr |
| EN 60512-25-1 | 2001-10 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-1: Prüfung 25a: Übersprechen (IEC 60512-25-1:2001) Mehr |
| EN 60512-25-2 | 2002-06 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-2: Prüfung 25b: Dämpfung (Einfügedämpfung) (IEC 60512-25-2:2002) Mehr |
| EN 60512-25-3 | 2001-10 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c: Veränderungen der Anstiegszeit (IEC 60512-25-3:2001) Mehr |
| EN 60512-25-4 | 2001-10 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-4: Prüfung 25d: Laufzeitverzögerung (IEC 60512-25-4:2001) Mehr |
| EN 60512-25-5 | 2004-09 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-5: Prüfung 25e - Rückflussdämpfung (IEC 60512-25-5:2004) Mehr |
| EN 60512-25-6 | 2004-07 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-6: Prüfung 25f: Augendiagramm und Jitter (IEC 60512-25-6:2004) Mehr |
