NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN EN 61076-3-112 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
IEC 60512-20-2 2000-04 Elektrisch-mechanische Bautelemente für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 20-2: Prüfung 20b - Brennbarkeitsprüfungen - Feuerfestigkeit Mehr 
IEC 60512-2-1 2002-02 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-1: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstandes; Prüfung 2a: Durchgangswiderstand; Millivoltmethode Mehr 
IEC 60512-2-2 2003-05 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-2: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands; Prüfung 2b: Durchgangswiderstand, mit vorgeschriebenem Strom Mehr 
IEC 60512-2-3 2002-02 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-3: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstandes; Prüfung 2c: Schwankung des Durchgangswiderstandes Mehr 
IEC 60512-23-4 2001-06 Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-4: Schirm- und Filterprüfungen; Prüfung 23d: Reflexion in Übertragungsstrecken im Zeitbereich Mehr 
IEC 60512-23-7 2005-01 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-7: Prüfungen der Schirmung und Dämpfung - Prüfung 23g: Effektive Transferimpedanz von Steckverbindern Mehr 
IEC 60512-2-5 2003-05 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-5: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands; Prüfung 2e: Kontaktstörungen Mehr 
IEC 60512-25-1 2001-07 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-1: Prüfung 25a; Übersprechen Mehr 
IEC 60512-25-2 2002-03 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-2: Prüfung 25b: Dämpfung (Einfügedämpfung) Mehr 
IEC 60512-25-3 2001-07 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c; Veränderung der Anstiegszeit Mehr