NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60793-2-10 ; VDE 0888-321:2005-07 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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EN 60793-1-32 | 2003-12 | Lichtwellenleiter - Teil 1-32: Messmethoden und Prüfverfahren - Absetzbarkeit der Beschichtung (IEC 60793-1-32:2001, modifiziert) Mehr |
EN 60793-1-33 | 2002-04 | Lichtwellenleiter - Teil 1-33: Messmethoden und Prüfverfahren; Spannungskorrosionsempfindlichkeit (IEC 60793-1-33:2001) Mehr |
EN 60793-1-34 | 2002-02 | Lichtwellenleiter - Teil 1-34: Messmethoden und Prüfverfahren; Faserringeln (IEC 60793-1-34:2001) Mehr |
EN 60793-1-40 | 2003-12 | Lichtwellenleiter - Teil 1-40: Messmethoden und Prüfverfahren - Dämpfung (IEC 60793-1-40:2001, modifiziert) Mehr |
EN 60793-1-41 | 2002-02 | Lichtwellenleiter - Teil 1-41: Messmethoden und Prüfverfahren; Bandbreite (IEC 60793-1-41:2001) Mehr |
EN 60793-1-41 | 2003-12 | Lichtwellenleiter - Teil 1-41: Messmethoden und Prüfverfahren; Bandbreite (IEC 60793-1-41:2003) Mehr |
EN 60793-1-42 | 2002-02 | Lichtwellenleiter - Teil 1-42: Messmethoden und Prüfverfahren; Chromatische Dispersion (IEC 60793-1-42:2001) Mehr |
EN 60793-1-43 | 2002-02 | Lichtwellenleiter - Teil 1-43: Messmethoden und Prüfverfahren; Numerische Apertur (IEC 60793-1-43:2001) Mehr |
EN 60793-1-46 | 2002-02 | Lichtwellenleiter - Teil 1-46: Messmethoden und Prüfverfahren; Überwachung der optischen Übertragungsänderungen (IEC 60793-1-46:2001) Mehr |
EN 60793-1-47 | 2002-02 | Lichtwellenleiter - Teil 1-47: Messmethoden und Prüfverfahren; Makrobiegeverlust (IEC 60793-1-47:2001) Mehr |