NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 50328 ; VDE 0115-328:2003-09 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60747-16-3 | 2002-05 | Halbleiterbauelemente - Teil 16-3: Integrierte Schaltungen zur Frequenzumsetzung von Mikrowellen Mehr |
| IEC 60747-2-2 ; QC 750109:1993-09 | 1993-09 | Halbleiterbauelemente; Einzel-Halbleiterbauelemente; Teil 2: Gleichrichterdioden; Hauptabschnitt 2: Vordruck für Bauartspezifikationen für Gleichrichterdioden (einschließlich Avalanche Gleichrichterdioden), umgebungs- und gehäusebezogen für Ströme über 100 A Mehr |
| IEC 60747-5-1 | 1997-08 | Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-1: Optoelektronische Bauelemente - Allgemeines Mehr |
| IEC 60747-5-1 AMD 1 | 2001-03 | Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-1: Optoelektronische Bauelemente; Allgemeines; Änderung 1 Mehr |
| IEC 60747-5-1 AMD 2 | 2002-03 | Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-1: Optoelektronische Bauelemente; Allgemeines; Änderung 2 Mehr |
| IEC 60747-5-1 Edition 1.2 | 2002-05 | Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-1: Optoelectronic devices; General Mehr |
| IEC 60747-5-2 | 1997-09 | Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-2: Optoelektronische Bauelemente - Wesentliche Grenz- und Kennwerte Mehr |
| IEC 60747-5-2 AMD 1 | 2002-03 | Einzel-Halbeleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-2: Optoelektronische Bauelemente; Wesentliche Grenz- und Kennwerte; Änderung 1 Mehr |
| IEC 60747-5-3 | 1997-08 | Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-3: Optoelektronische Bauelemente - Meßverfahren Mehr |
| IEC 60747-5-3 AMD 1 | 2002-03 | Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-3: Optoelektronische Bauelemente; Messverfahren; Änderung 1 Mehr |
