NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 50173-1 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| EN 55022 | 1998-09 | Einrichtungen der Informationstechnik - Funkstörungen - Grenzwerte und Meßverfahren (CISPR 22:1997, modifiziert) Mehr |
| EN 55024 | 1998-09 | Einrichtungen der Informationstechnik - Störfestigkeitseigenschaften - Grenzwerte und Prüfverfahren (CISPR 24:1997, modifiziert) Mehr |
| EN 60068-1 | 1994-10 | Umweltprüfungen - Teil 1: Allgemeines und Leitfaden (IEC 60068-1:1988 + Corrigendum 1988 + A1:1992) Mehr |
| EN 60068-2-14 | 1999-11 | Umweltprüfungen - Teil 2: Prüfungen - Prüfung N: Temperaturwechsel (IEC 60068-2-14:1984 + A1:1986) Mehr |
| EN 60068-2-38 | 1999-04 | Umweltprüfungen - Teil 2: Prüfungen - Prüfung Z/AD: Zusammengesetzte Prüfung Temperatur/Feuchte, zyklisch (IEC 60068-2-38:1974) Mehr |
| EN 60352-3 | 1994-10 | Lötfreie elektrische Verbindungen - Teil 3: Lötfreie zugängliche Schneidklemmverbindungen - Allgemeine Anforderungen, Prüfverfahren und Anwendungshinweise (IEC 60352-3:1993) Mehr |
| EN 60352-4 | 1994-10 | Lötfreie elektrische Verbindungen - Teil 4: Lötfreie nichtzugängliche Schneidklemmverbindungen - Allgemeine Anforderungen, Prüfverfahren und Anwendungshinweise (IEC 60352-4:1994) Mehr |
| EN 60352-6 | 1997-10 | Lötfreie Verbindungen - Teil 6: Durchdringverbindungen - Allgemeine Anforderungen, Prüfverfahren und Anwendungshinweise (IEC 60352-6:1997) Mehr |
| EN 60512-2-1 | 2002-04 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-1: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstandes; Prüfung 2a: Durchgangswiderstand; Millivoltmethode (IEC 60512-2-1:2002) Mehr |
| EN 60512-25-1 | 2001-10 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-1: Prüfung 25a: Übersprechen (IEC 60512-25-1:2001) Mehr |
