NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61076-2-102 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| EN 60512-2-1 | 2002-04 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-1: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstandes; Prüfung 2a: Durchgangswiderstand; Millivoltmethode (IEC 60512-2-1:2002) Mehr |
| EN 60512-2-3 | 2002-04 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-3: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstandes; Prüfung 2c: Schwankung des Durchgangswiderstandes (IEC 60512-2-3:2002) Mehr |
| EN 60512-23-3 | 2001-02 | Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-3: Prüfung 23c: Schirmwirkung von Steckverbindern und Zubehör (IEC 60512-23-3:2000) Mehr |
| EN 60512-23-4 | 2001-08 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-4: Prüfungen der Schirmung und Dämpfung; Prüfung 23d: Reflexion in Übertragungsstrecken im Zeitbereich (IEC 60512-23-4:2001) Mehr |
| EN 60512-25-1 | 2001-10 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-1: Prüfung 25a: Übersprechen (IEC 60512-25-1:2001) Mehr |
| EN 60512-25-2 | 2002-06 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-2: Prüfung 25b: Dämpfung (Einfügedämpfung) (IEC 60512-25-2:2002) Mehr |
| EN 60512-25-3 | 2001-10 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c: Veränderungen der Anstiegszeit (IEC 60512-25-3:2001) Mehr |
| EN 60512-25-4 | 2001-10 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-4: Prüfung 25d: Laufzeitverzögerung (IEC 60512-25-4:2001) Mehr |
| EN 60512-2-6 | 2002-04 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-6: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstandes; Prüfung 2f: Durchgangswiderstand Gehäuse (Schirm) (IEC 60512-2-6:2002) Mehr |
| EN 60512-3-1 | 2002-04 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 3-1: Prüfungen der Isolation; Prüfung 3a: Isolationswiderstand (IEC 60512-3-1:2002) Mehr |
