NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60352-2 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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| IEC 60512-16-20 | 1996-08 | Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Meß- und Prüfverfahren - Teil 16: Mechanische Prüfungen an Kontakten und Anschlüssen - Hauptabschnitt 20: Prüfung 16t: Zugfestigkeit (verdrahteter Anschluß bei lötfreien Verbindungen) Mehr |
| IEC 60512-19-3 | 1997-07 | Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Meß- und Prüfverfahren - Teil 19: Prüfungen der Widerstandsfähigkeit gegen Chemikalien - Hauptabschnitt 3: Prüfung 19c: Beständigkeit gegen Flüssigkeiten Mehr |
| IEC 60512-20-2 | 2000-04 | Elektrisch-mechanische Bautelemente für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 20-2: Prüfung 20b - Brennbarkeitsprüfungen - Feuerfestigkeit Mehr |
| IEC 60512-2-1 | 2002-02 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-1: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstandes; Prüfung 2a: Durchgangswiderstand; Millivoltmethode Mehr |
| IEC 60512-2-3 | 2002-02 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-3: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstandes; Prüfung 2c: Schwankung des Durchgangswiderstandes Mehr |
| IEC 60512-23-4 | 2001-06 | Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-4: Schirm- und Filterprüfungen; Prüfung 23d: Reflexion in Übertragungsstrecken im Zeitbereich Mehr |
| IEC 60512-25-1 | 2001-07 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-1: Prüfung 25a; Übersprechen Mehr |
| IEC 60512-25-2 | 2002-03 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-2: Prüfung 25b: Dämpfung (Einfügedämpfung) Mehr |
| IEC 60512-25-3 | 2001-07 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c; Veränderung der Anstiegszeit Mehr |
| IEC 60512-25-4 | 2001-07 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-4: Prüfung 25d; Laufzeitverzögerung Mehr |
