NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN EN IEC 61076-2-115 ; VDE 0687-2-115:2024-05 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
IEC 60512-13-5 2006-02 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 13-5: Prüfungen der mechanischen Bedienbarkeit - Prüfung 13e: Polarisation und Kodierung Mehr 
IEC 60512-15-1 2008-05 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 15-1: Mechanische Prüfungen an Steckverbindern - Prüfung 15a: Kontakthalterung Mehr 
IEC 60512-15-6 2008-05 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 15-6: Mechanische Prüfungen an Steckverbindern - Prüfung 15f: Wirksamkeit von Steckverbindern - Verriegelungen Mehr 
IEC 60512-16-5 2008-07 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 16-5: Mechanische Prüfungen an Kontakten und Anschlüssen - Prüfung 16e: Einzelziehkraft mit Lehre Mehr 
IEC 60512-20-3 2010-06 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 20-3: Prüfungen auf Feuersicherheit - Prüfung 20c: Brennbarkeit, Glühdraht Mehr 
IEC 60512-2-1 2002-02 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-1: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstandes; Prüfung 2a: Durchgangswiderstand; Millivoltmethode Mehr 
IEC 60512-2-2 2003-05 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-2: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands; Prüfung 2b: Durchgangswiderstand, mit vorgeschriebenem Strom Mehr 
IEC 60512-2-5 2003-05 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-5: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands; Prüfung 2e: Kontaktstörungen Mehr 
IEC 60512-2-6 2002-02 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-6: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstandes; Prüfung 2f: Durchgangswiderstand Gehäuse (Schirm) Mehr 
IEC 60512-3-1 2002-02 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 3-1: Prüfungen der Isolation; Prüfung 3a: Isolationswiderstand Mehr