NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 63171-1 ; VDE 0627-171-1:2024-04 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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DIN EN 61754-20 | 2023-08 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Steckgesichter von Lichtwellenleiter-Steckverbindern - Teil 20: Steckverbinderfamilie der Bauart LC (IEC 61754-20:2012 + AMD1:2022); Deutsche Fassung EN 61754-20:2012 + A1:2022 Mehr |
DIN IEC/TR 63040 ; VDE 0110-100:2021-08 | 2021-08 | Leitfaden für Luftstrecken und Kriechstrecken, insbesondere für Abstände kleiner oder gleich 2 mm - Versuchsergebnisse von Forschungsarbeiten über die beeinflussenden Größen (IEC TR 63040:2016 + COR1:2019) Mehr |
IEC 60068-2-14 | 2023-07 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-14: Prüfverfahren - Prüfung N: Temperaturwechsel Mehr |
IEC 60068-2-38 | 2021-03 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-38: Prüfverfahren - Prüfung Z/AD: Zusammengesetzte Prüfung, Temperatur/Feuchte, zyklisch Mehr |
IEC 60512-11-3 | 2002-02 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 11-3: Klimatische Prüfungen; Prüfung 11c: Feuchte Wärme, konstant Mehr |
IEC 60512-11-9 | 2002-02 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 11-9: Klimatische Prüfungen; Prüfung 11i: Trockene Wärme Mehr |
IEC 60512-9-2 | 2011-11 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 9-2: Dauerprüfungen - Prüfung 9b: Elektrische Belastung bei hoher Temperatur Mehr |
IEC 60603-7 | 2020-10 | Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Teil 7: Bauartspezifikation für ungeschirmte freie und feste Steckverbinder, 8polig Mehr |
IEC 61754-20 | 2012-04 | Lichtwellenleiter - Verbindungselemente und passive Bauteile - Steckgesichter von Lichtwellenleiter- Steckverbindern - Teil 20: Steckverbinderfamilie der Bauart LC Mehr |
IEC/TR 63040 | 2016-09 | Leitfaden für Luftstrecken und Kriechstrecken insbesondere für Abstände kleiner oder gleich 2 mm - Versuchsergebnisse von Forschungsarbeiten über die beeinflussenden Größen Mehr |