NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN EN IEC 62435-7 ; VDE 0884-135-7:2022-10 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
IEC 60721-3-1 2018-02 Klassifizierung von Umgebungsbedingungen - Teil 3-1: Klassen von Umwelteinflussgrößen und deren Grenzwerte - Langzeitlagerung Mehr 
IEC 60749-20 2020-08 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat Mehr 
IEC 60749-20-1 2019-06 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 20-1: Handhabung, Verpackung, Kennzeichnung und Transport oberflächenmontierbarer Bauelemente, die empfindlich gegen die Kombination von Feuchte und Lötwärme sind Mehr 
IEC 62435-2 2017-01 Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 2: Schädigungsmechanismen Mehr 
IEC 62435-3 2020-02 Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 3: Daten Mehr 
IEC 62435-4 2018-06 Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 4: Lagerung Mehr 
IEC 62435-5 2017-01 Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 5: Chip- und Wafererzeugnisse Mehr 
DIN EN IEC 60721-3-1 ; VDE 0468-721-3-1:2018-12 2018-12 Klassifizierung von Umgebungsbedingungen - Teil 3-1: Klassen von Einflussgrößen und deren Grenzwerte - Lagerung (IEC 60721-3-1:2018); Deutsche Fassung EN IEC 60721-3-1:2018 Mehr 
DIN EN IEC 62435-4 ; VDE 0884-135-4:2019-05 2019-05 Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 4: Lagerung (IEC 62435-4:2018); Deutsche Fassung EN IEC 62435-4:2018 Mehr 
DIN EN 60749-20-1 2009-10 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 20-1: Handhabung, Verpackung, Kennzeichnung und Transport oberflächenmontierbarer Bauelemente, die empfindlich gegen die Kombination von Feuchte und Lötwärme sind (IEC 60749-20-1:2009); Deutsche Fassung EN 60749-20-1:2009 Mehr