NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 62435-8 ; VDE 0884-135-8:2022-11 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| DIN EN 62435-5 ; VDE 0884-135-5:2017-10 | 2017-10 | Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 5: Chip- und Wafererzeugnisse (IEC 62435-5:2017); Deutsche Fassung EN 62435-5:2017 Mehr |
| EIA JESD 89A | 2006-10 | Measurement and Reporting of Alpha Particle and Terrestrial Cosmic Ray-Induced Soft Errors in Semiconductor Devices Mehr |
| IEC 60721-3-1 | 2018-02 | Klassifizierung von Umgebungsbedingungen - Teil 3-1: Klassen von Umwelteinflussgrößen und deren Grenzwerte - Langzeitlagerung Mehr |
| IEC 62435-1 | 2017-01 | Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 1: Allgemeines Mehr |
| IEC 62435-2 | 2017-01 | Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 2: Schädigungsmechanismen Mehr |
| IEC 62435-3 | 2020-02 | Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 3: Daten Mehr |
| IEC 62435-4 | 2018-06 | Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 4: Lagerung Mehr |
| IEC 62435-5 | 2017-01 | Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 5: Chip- und Wafererzeugnisse Mehr |
| IEC 62435-6 | 2018-08 | Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 6: Bauelemente in Gehäusen oder fertiggestellte Bauelemente Mehr |
| IEC 62435-7 | 2020-12 | Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 7: Bauelemente der Mikrosystemtechnik Mehr |
