NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 61753-111-08 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
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IEC 60068-2-82 | 2019-05 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-82: Prüfungen - Prüfung XW1: Whisker-Prüfverfahren für Bauelemente und Teile in elektronischen Baugruppen Mehr |
IEC 60068-2-83 | 2011-09 | Umweltprüfungen - Teil 2-83: Prüfungen - Prüfung Tf: Prüfung der Lötbarkeit von Bauelementen der Elektronik für Oberflächenmontage (SMD) mit der Benetzungswaage unter Verwendung von Lotpaste Mehr |
IEC 60068-2-85 | 2019-06 | Umgebungseinflüsse - Teil 2-85: Prüfverfahren - Prüfung Fj: Schwingen, Nachbildung von Langzeitsignalen Mehr |
IEC 60721-3-1 | 2018-02 | Klassifizierung von Umgebungsbedingungen - Teil 3-1: Klassen von Umwelteinflussgrößen und deren Grenzwerte - Langzeitlagerung Mehr |
IEC 60721-3-2 | 2018-02 | Klassifizierung von Umgebungsbedingungen - Teil 3-2: Klassifizierung von Einflussgrößen in Gruppen und deren Schärfegrade - Transport und Handhabung Mehr |
IEC 60793-2 | 2019-11 | Lichtwellenleiter - Teil 2: Produktspezifikationen - Allgemeines Mehr |
IEC 60793-2-10 | 2019-05 | Lichtwellenleiter - Teil 2-10: Produktspezifikationen - Rahmenspezifikation für Mehrmodenfasern der Kategorie A1 Mehr |
IEC 60794-1-2 | 2021-01 | Lichtwellenleiterkabel - Teil 1-2: Fachgrundspezifikation - Grundlegende Prüfverfahren für Lichtwellenleiterkabel - Allgemeine Anleitung Mehr |
IEC 60794-2 | 2017-06 | Lichtwellenleiterkabel - Teil 2: LWL-Innenkabel - Rahmenspezifikation Mehr |
IEC 60794-3 | 2022-02 | Lichtwellenleiterkabel - Teil 3: Rahmenspezifikation - Außenkabel Mehr |